树脂型光刻胶薄膜中Eu~(3+)的辐射跃迁特性

作者：李晓娟; TSANGKwokChu; PUNEdwinYue-Bun; 林海

来源：光谱学与光谱分析, 2009, (03): 602-606.

• 稀土配合物
• 光刻胶薄膜
• Judd-Ofelt参数
• 辐射跃迁概率 Rare-earth complex
• Photoresist film
• Judd-Ofelt parameters
• Radiative transition rates

合成了稀土配合物Eu(TTFA)3(TTFA,2-thenoyltrifluoroacetone)掺杂的树脂型光刻胶薄膜,测定了薄膜的激发光谱和发射光谱。根据Judd-Ofelt理论,由发射光谱获得了Eu3+在光刻胶薄膜中的J-O参数Ω2=24.4×10-20cm2,Ω4=2.8×10-20cm2。利用得到的J-O参数计算了光刻胶薄膜中5D0激发态的辐射跃迁概率(977 s-1)和辐射寿命(1.02 ms),同时导出了光刻胶薄膜中Eu3+的5D0→7FJ(J=1,2,4)跃迁的受激发射截面σ和荧光分支比β。分析表明,Eu3+掺杂的光刻胶薄膜具有较长的亚稳态寿命以及较大的受激发射截面,是一种主动...

• 单位
  材料学院; 香港城市大学; 大连工业大学