提出一种基于多目标遗传算法的高层次测试综合方法。该方法在面积和时间的约束下,在高层次调度和单元分配过程中完成电路的可测性设计。通过约束条件的转换和新式的杂交算子来避免无效染色体的产生,改善了遗传算法中解的质量和收敛速度。实验结果表明了该方法的有效性。