电磁测量数据、模拟数据需与已知的统计分布曲线比对,以判断数据是否满足该分布。然而,仅仅依赖非线性曲线间的相似性,其判断往往不可靠,甚至错误,除非利用拟合优度R2辅助评价。本文提出高斯坐标和瑞利坐标产生方法,分别将高斯和瑞利累积分布函数曲线都变换成直线,通过观察数据点是否在该直线上或均匀地分布在该直线两侧附近,直观而准确判断数据是否满足相应统计分布。该方法灵敏度极高且通用,能克服拟合优度的一定缺陷,可推广到其他非线性物理规律的判定。
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