科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
使用常规超声C扫描检测技术对不同TC17盘件试样进行检测时，在相同灵敏度下同一检测面上的不同区域杂波显示水平不同，局部区域杂波较高。对杂波高的对应位置进行解剖，低倍观察未见冶金及制造造过程产生的缺陷组织未见明显差异；高倍组织与杂波相对较低的部位比较，存在原始的拉长晶界，并且晶界α相有连续分布趋势，方向整体倾向于与超声入射方向接近垂直，形成对超声波反射强烈的界面，导致较高的超声显示信号。
- 单位
使用常规超声C扫描检测技术对不同TC17盘件试样进行检测时，在相同灵敏度下同一检测面上的不同区域杂波显示水平不同，局部区域杂波较高。对杂波高的对应位置进行解剖，低倍观察未见冶金及制造造过程产生的缺陷组织未见明显差异；高倍组织与杂波相对较低的部位比较，存在原始的拉长晶界，并且晶界α相有连续分布趋势，方向整体倾向于与超声入射方向接近垂直，形成对超声波反射强烈的界面，导致较高的超声显示信号。
