一种有效的3D存储器内建自修复方案

作者：姚瑶; 梁**; 应健锋; 倪天明; 易茂祥; 黄正峰

来源：微电子学, 2019, 49(05): 690-696.

DOI：10.13911/j.cnki.1004-3365.180527

• 3D存储器
• 成品率
• 内建自修复
• 行块
• 列块
• 修复率

与2D存储器相比,3D存储器能够提供更大的容量、更高的带宽、更低的延迟和功耗,但成品率低。为了解决这个问题,提出一种有效的3D存储器内建自修复方案。将存储阵列的每一行或每一列划分成几个行块或列块,在不同层的行块或列块之间进行故障单元的映射,使不同层同一行或同一列的故障在逻辑上映射到同一层中,从而使一个冗余行或冗余列能够修复更多的故障,大大增加了冗余资源利用率和故障修复率。实验结果表明,与其他修复方案相比,该方案的修复率更高,实现相同修复率所需的冗余资源更少,增加的面积开销几乎可忽略不计。

• 单位
  合肥工业大学; 安徽工程大学