SiGe HBT MEXTRAM模型参数的直接提取

作者：周佩明; 付军; 周天舒; 李平梁; 徐向明; 王玉东; 张伟; 崔杰; 刘志弘

来源：微电子学, 2011, 41(05): 746-750.

• 参数提取
• 锗硅异质结双极晶体管
• MEXTRAM模型 Parameter extraction
• SiGe HBT
• MEXTRAM model

提出了一种锗硅异质结双极晶体管(SiGe HBT)MEXTRAM集约模型参数的直接提取方法。该方法通过有效地区分各种器件物理效应对器件性能的影响,无需电路仿真器,就能够提取器件的模型参数,简便实用。通过提取实验制备的SiGe HBT器件的整套MEXTRAM模型参数,仿真曲线与测试数据吻合良好,证实了该方法的精确性和有效性。

• 单位
  清华大学; 清华信息科学与技术国家实验室; 上海华虹NEC电子有限公司