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摘要
航空电子设备在巡航高度通常会产生大气中子单粒子效应,严重时会影响飞机的安全性、可靠性与维修性。本文简要介绍了国际上航空电子设备单粒子效应的加速增长趋势,提出了半导体新技术带来的单粒子效应难题,即当前的国际热点问题之一——航空电子设备单粒子效应防控指标要求如何做到不遗漏、不错误、不冲突。本文分析了ADIRU的事故案例,介绍了国际上单粒子效应指标要求相关的思考,提出了单粒子效应指标要求如何做到不遗漏、不错误、不冲突的探索方向。明确提出共享全寿命周期单粒子效应基础数据是航空电子设备单粒子效应指标要求避免遗漏、错误与冲突的发展路径。
