摘要

采用传统的陶瓷烧结工艺制备B_2O_3,In_2O_3,Al_2O_3多元施主掺杂的直流ZnO压敏陶瓷样品,考察不同掺杂比(0.1%~0.4%,摩尔分数)的B_2O_3对直流ZnO压敏陶瓷样品微观结构和电气性能的影响。利用X射线衍射仪、扫描电子显微镜、能量色散X射线光谱及数字源表等分别对样品的物相、微观形貌、成分及电性能进行表征。结果表明,多元施主掺杂剂(Al_2O_3,In_2O_3和B_2O_3)的共掺杂明显改善直流ZnO压敏陶瓷的综合性能,其中,Al~(3+)提高样品的电导率,降低样品的残压比;In~(3+)通过钉扎效应限制晶粒的生长,改善样品的电压梯度;B~(3+)的掺杂增加样品的表面态密度,提高势垒高度并有效抑制泄漏电流的增加。B_2O_3掺杂量为0.3%时,样品的综合性能最优:电压梯度为486 V/mm,泄漏电流密度为0.58μA/cm~2,非线性系数为85,残压比为1.55。

  • 单位
    清华大学; 新疆大学; 电力系统及大型发电设备安全控制和仿真国家重点实验室; 电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室