相位测量轮廓术(Phase Measurement Profilometry,PMP),是一种面结构光测量技术,具有非接触式、精度高和速度快等优势,在三维视觉测量中有着广泛的应用。基于相位测量轮廓术的三维测量的关键技术包括:采集四幅相移图计算生成包裹相位、展开包裹相位和相位高度映射,这些关键步骤关系到三维测量的速度和精度。
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