高压支柱瓷绝缘子断裂原因与缺陷检测技术分析

作者:赵洲峰; 罗宏建; 鲁旷达; 徐冬梅; 杨斌
来源:集成电路应用, 2022, 39(03): 128-129.
DOI:10.19339/j.issn.1674-2583.2022.03.051

摘要

阐述高压支柱瓷绝缘子断裂的原因及检测缺陷的技术,提高安装及调试程序的科学性,避免出现运行维护过程的质量问题,使其维持正常稳定的状态。