高可靠数字集成电路的BiCMOS工艺设计

作者:刘云洁; 蒲耀川; 王轶军; 李文军; 潘照霞; 任雄
来源:集成电路应用, 2023, 40(10): 36-37.
DOI:10.19339/j.issn.1674-2583.2023.10.013

摘要

阐述一种基于5V BiCMOS高可靠数字集成电路的器件结构、工艺设计和工艺开发,并对该器件的电参数进行测试,与试验仿真值进行比对分析,结果相符合。

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