相控阵天线多波束自动测试系统设计

作者:丁若梁; 阎云涛; 陈金龙
来源:电子测量技术, 2020, 43(11): 148-152.
DOI:10.19651/j.cnki.emt.2004252

摘要

提出了一种多波束相控阵天线测试系统优化设计方法。从现有测试流程的解构分析开始,寻找机械重复测试部分对其进行优化,使用改进测试系统自动化程度的方法,提高了测试流程中设备的使用效率,缩短了测试时间。使用这种优化设计方法进行改造的测试系统,在验证实验中实现了54.9%的效率提升。证明了这种有针对性的测试系统优化设计方法的使用解决了相控阵天线调试过程中,测试工作整体呈现出的测试波位多、测试量大的工作难题,有效提高相控阵天线多波束指标的测试效率。

  • 单位
    西安电子工程研究所