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摘要
本发明涉及微带贴片天线制造公差对电性能影响的区间分析方法,电性能至少包括谐振频率区间,该方法至少包括以下步骤：S1,确认制造参数的区间,其中,制造参数为微带贴片天线的长度、微带贴片天线的宽度、微带贴片天线的厚度或者微带贴片天线的介电常数；S2,计算介质基片的有效介电常数或者有效介电常数区间,将涉及的参数替换为相应的参数的区间：S3,计算辐射缝隙的长度或长度区间,将涉及的参数替换为相应的参数的区间：S4,计算谐振频率区间,将涉及的参数替换为相应的参数的区间。本发明提供的微带贴片天线制造公差对电性能影响的区间分析方法不需要进行大量的分析和计算,可以节省计算时间和计算资源。
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