提出了一种在数据分析中降低堆积事例误差的一种修正方法,并通过塑料闪烁体搭建的宇生μ子时间符合探测器开展寿命测量实验进行验证.寿命测量实验研究表明,主要本底事件来自电子学噪声和堆积事例.为了弥补在本地实验室中,μ子衰变事例在总体宇生μ子事例中较为稀有的短板,我们使用蒙特卡罗模拟程序产生大样本量,进一步验证该分析方法的有效性.修正后的最终实验结果为τexpμ=2.19±0.07μs,而修正前的实验
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