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摘要
采用Chin和Chen的动力学算法追踪粒子在体系中的运动情况,首次研究并对比了粒子在Hénon-Heiles体系与变形Hénon-Heiles六边形体系中的混沌逃逸规律,在Hénon-Heiles体系中,对于不同能量范围,分形维数与逃逸率随能量而改变,但在变形Hénon-Heiles六边形体系中,仅在低能区分形维数与逃逸率随能量的改变而变化,而高能区逃逸率和分形维数趋于稳定值.并且得到普遍规律,即不同混沌体系中粒子的混沌逃逸率和粒子逃逸的分形维数呈现较强的线性相关性.因而分形维数可以作为工具研究混沌体系中粒子的逃逸规律,在介观器件设计中可以通过研究混沌电子器件的分形维数来表征粒子在器件中的传输行为.
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