摘要
通过在聚酰胺酸中加入正硅酸乙酯(TEOS)和硅烷偶联剂(KH550),制备了不同SiO_2含量的PI/SiO_2杂化薄膜。采用FTIR、TMA、SEM以及TGA分析了PI/SiO_2杂化薄膜的性能和结构。结果表明,TEOS经水解缩合与聚酰亚胺(PI)形成了有机-无机杂化网络结构,SiO_2均匀分散在聚酰亚胺基体中;SiO_2和偶联剂的引入提高了杂化薄膜的热稳定性;随着SiO_2含量的增加,PI/SiO_2杂化薄膜的拉伸强度降低,但当SiO_2含量达到20%时,弹性模量增大到3.4GPa。
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单位南京工业大学; 材料化学工程国家重点实验室