摘要
I/O突发是造成I/O瓶颈的一个主要原因,研究I/O负载中普遍存在的突发性并对负载进行精确合成,对存储系统设计及其性能评价具有重要意义。对实际I/O负载的研究表明,传统的泊松假定难以准确地描述长时间范围内的I/O突发行为。研究发现,I/O突发在不同时间尺度下具有相似性,即I/O负载具有自相似性,因此,自相似模型被用来刻画I/O负载中的长相关性。针对I/O负载自相似参数估计,总结了各种常用的时域和频域估值方法。着重对已有的I/O负载合成模型进行了剖析,讨论了各种自相似模型、多分形模型以及alpha稳定模型的特点。探讨了有待解决的开放性问题,并对I/O负载自相似性研究的发展趋势进行了展望。上述工作...
- 单位