为了提高废旧电路板的回收再利用率，针对回收电路板常见表面缺陷，在均匀分块基础上，提出了四叉树分裂颜色直方图缺陷检测方法。该方法能快速定位电路板表面缺陷，并通过支持向量机（support vector machine，SVM）实现缺陷分类，进而为电路板的二次利用提供质量保障。重点分析了分块大小与判断阈值对缺陷定位结果的影响，在保证检测精度的同时，检测速度相比均匀分块方法得到明显提升。与Faster-RCNN网络方法进行对比，结果表明该方法定位效果好，分类准确率平均达81%。
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