TFT-LCD中驱动信号与线残像的关系研究

作者：林琳琳; 张洪林; 林鸿涛; 贠向南; 陈曦; 赖意强; 吴洪江; 刘耀; 庄子华; 李大海

来源：液晶与显示, 2018, 33(05): 375-380.

• 线残像
• 畸变
• 驱动信号反转方式
• 驱动信号电压

通过对薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产品易产生线残像的问题进行研究,考察了不同驱动信号电压及反转方式与线残像之间的关系。结果表明,通过减小驱动信号线电压,或提高驱动信号的反转频率,均可降低公共电极与信号线的耦合程度。当灰阶电压由L255减小为L46,耦合电压幅值由240mV降为34.8mV;当驱动信号方式由帧反转变为点反转时,耦合电压幅值由112.6mV降为63.1mV,有效地改善了线残像,并利用德拜弛豫公式分析了驱动信号反转对线残像的作用机理,为线残像的分析和改善提供了理论依据和解决方向。