摘要
为满足快速无损的大米产地确证需求,采集吉林省梅河口市水稻主产区及松原、大安、辉南等其他水稻产区共990个大米样本的高光谱图像(400~1 000 nm)作为研究对象,利用多元散射校正(MSC)处理方法对光谱进行预处理。采用多层感知机(MLP)、极限学习机(ELM)与在线序列极限学习机(OS-ELM)算法,分别基于全波段高光谱数据以及经多维尺度分析(MDS)方法降维后的数据建立产地确证模型。结果表明,基于全波段高光谱数据的OS-ELM模型分类性能最好,准确率达到98.3%。经MDS处理后,输入的数据变量减少了96.6%,MDS-OS-ELM模型准确率稳定在97.4%。对三种模型的训练时间进行对比分析,OS-ELM训练时间明显优于MLP,在分批次获取数据时训练时间优于ELM。为大米产地确证提供了一种高效、准确、稳定的方法。
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