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摘要
一套理想的EMC测量系统，应该在每次对同一个符合稳定性要求的质控样品进行测试时，只产生“正确”的测量结果，而且随着时间的推移，测量结果也不会发生偏离，始终保持稳定状态。针对EMC测量系统，探讨如何利用统计过程控制技术（SPC技术），结合MINITAB软件来识别EMC测量系统的性能偏离。着重介绍了预控制图、I-MR控制图和■控制图三种控制图的具体应用，为EMC检测实验室的日常质量控制提供参考。
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一套理想的EMC测量系统，应该在每次对同一个符合稳定性要求的质控样品进行测试时，只产生“正确”的测量结果，而且随着时间的推移，测量结果也不会发生偏离，始终保持稳定状态。针对EMC测量系统，探讨如何利用统计过程控制技术（SPC技术），结合MINITAB软件来识别EMC测量系统的性能偏离。着重介绍了预控制图、I-MR控制图和■控制图三种控制图的具体应用，为EMC检测实验室的日常质量控制提供参考。
