摘要

提出一种基于虚拟仪器平台的电子元器件特性曲线测量仪设计方法,通过虚拟仪器数据采集及相关处理,实现元器件特性检测功能,具有显示直观、测量简便、处理灵活、功能丰富的特点,拥有较好的推广前景。