CaCu_3Ti_4O_(12)陶瓷松弛损耗机理研究

作者：王辉; 林春江; 李盛涛; 李建英

来源：Acta Physica Sinica, 2013, (08): 480-485.

• CaCu3Ti4O12陶瓷
• 介电损耗
• 松弛过程
• Schottky势垒 CaCu3Ti4O12 ceramics
• dielectric loss
• relaxation process
• Schottky barrier

CaCu3Ti4O12介电损耗较大且损耗机理尚不明确,因此限制了其应用.本文采用固相法和共沉淀法合成CaCu3Ti4O12陶瓷,利用宽带介电温谱研究在交流小信号作用下,双Schottky势垒耗尽层边缘深陷阱的电子松弛过程、载流子松弛过程以及CaCu3Ti4O12陶瓷的介电损耗性能.研究发现,在低频下以跳跃电导和直流电导的响应为主,而高频下主要为深陷阱能级的松弛过程所致,特别是活化能为0.12eV的深陷阱浓度,这是决定CaCu3Ti4O12陶瓷高频区介电损耗的重要因素.降低直流电导,有利于降低低频区介电损耗;而高频区介电损耗的降低,需要降低深陷阱浓度或增大晶粒尺寸.共沉淀法制备的CaCu3Ti4...

• 单位
  电力设备电气绝缘国家重点实验室; 西安交通大学