智能卡性能检测方法研究

作者：吴舜娟; 尹文化; 冯志新; 陈燕

来源：合成材料老化与应用, 2014, 43(02): 60-63.

DOI：10.16584/j.cnki.issn1671-5381.2014.02.024

• 智能卡
• 检测方法
• 趋势
• 新检测项目

简单概述了智能卡标准的测试方法,并讨论智能卡在现有复杂环境中,其使用寿命及理化性能检测方法。从智能卡的实际应用和新技术发展趋势考虑,建议开展标准检测方法以外的新检测项目。

• 单位
  广州合成材料研究院有限公司