不同分布模式电离层对星载InSAR测高精度的影响及校正

作者：赵玲; 周杨; 靳国旺; 薛武; 许继伟

来源：测绘科学技术学报, 2015, 32(03): 288-293.

• 电离层总电子含量
• 合成孔径雷达干涉测量
• 相位延迟
• 测高精度
• 基线估计

电离层总电子含量(TEC)会使合成孔径雷达干涉测量(In SAR)信号产生相位延迟,进而影响生成DEM的精度,特别是对L和P等长波段信号的影响不可忽略。因此,针对不同TEC分布模式的电离层开展研究,构建了电离层对星载In SAR测高精度的影响模型,提出了相应的校正方法,并进行了仿真实验。实验表明对于特定波长的In SAR信号,不同TEC分布模式对In SAR测高精度的影响不同:TEC均匀分布的电离层模型对In SAR测高精度的影响较小,并可通过相位解缠、基线估计等环节进行很好的补偿;而TEC不均匀分布的电离层模型对In SAR精度的影响较大,仅靠相位解缠等过程不能较好地消除,必须通过向干涉图中加入电离层影响模型予以纠正。

• 单位
  信息工程大学