基于预充电和双采样技术的S/H电荷共享消除技术

作者：孙振亚; 眭志凌; 陈华; 徐双恒; 朱欢; 张军

来源：微电子学与计算机, 2013, (03): 16-19.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2013.03.005

• 开关电容
• 采样/保持
• 记忆效应
• 电荷共享
• 预充电 switched-capacitor
• sample-and-hold
• memory effect
• charge sharing
• pre-charge

针对开关电容采样/保持(S/H)电路中由负载电容记忆效应引起的电荷共享问题进行了建模.电荷共享效应会导致运放建立幅度增加,根据所推导的运放建立总公式,得出建立幅度增加会增大对运放功耗和带宽要求,或者降低建立速度.为改善该现象,基于预充电思想和双采样技术提出了一种优化方案,能在保持原S/H电路速度不变时,消除电荷共享效应对运放功耗和带宽的额外要求.仿真实现的12位100Msps双采样/保持电路证明了其有效性.

• 单位
  电子科技大学; 电子薄膜与集成器件国家重点实验室