恒流驱动下基于VeE＿max的IGBT模块解耦老化影响的结温测量方法

作者：杨舒萌; 孙鹏菊^*; 王凯宏; 王绪龙; 黄旭

来源：电工技术学报, 2022, 37(12): 3038-3072.

DOI：10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.211003

• 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)
• 温敏电参数
• 解耦老化影响
• 结温在线测量

绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的结温在线测量对于电力电子装置的安全可靠运行、延长使用寿命和热管理等都具有重要意义。然而，目前大多数温敏电参数均受IGBT模块疲劳老化的影响。为此，该文提出一种恒流驱动下基于感应电压峰值VeE＿max的IGBT模块结温在线测量方法，该方法能够解耦键合线老化对温敏电参数的影响。基于双脉冲实验平台分析VeE＿max的温线性度和温敏感度，并通过模拟键合线老化实验验证所提方法的老化解耦性。最后，通过Buck变换器验证该方法在运行变流器中在线结温测量的可行性。

• 单位
  重庆大学; 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室