摘要
为提高Li2MnSiO4导电性和结构稳定性,采用第一性原理广义梯度近似GGA+U的方法,构建并分析LixMnyM1-ySiO4(x=2,1,0;y=0.5,1;M=Ni, Ti, Ce)结构的形成能、脱锂结构稳定性和电子态密度。研究发现,Li2MnSiO4的带隙为3.44 eV,导电性能差,掺杂结构Li2Mn0.5Ti0.5SiO4,Li2Mn0.5Ce0.5SiO4和Li2Mn0.5Ni0.5SiO4分别呈现半导体特性、金属性和半金属性质,掺杂后导电性能得到改善。Li2Mn0.5Ti0.5SiO4,Li2Mn0.5Ce0.5SiO4一次脱锂后的体积分别减小了8.05%和7.93%,脱锂相结构稳定性不足,而Li2Mn0.5Ni0.5SiO4一次脱锂后体积只减小2.98%,脱锂相结构较稳定,说明掺杂Ni是提升Li2MnSiO4导电性和结构稳定性的有效方法。
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