摘要
对叠加在SPR曲线上的等倾干涉条纹的变化规律进行了研究。通过计算干涉条纹周期随入射角度的变化,发现干涉条纹周期在原SPR谐振角附近,存在着一个奇异的尖锐的突起,称之为SPR干涉谐振峰,尖峰所对应的入射角称为干涉谐振角θint-SPR.对干涉谐振角θint-SPR与敏感膜厚度和折射率的关系进行了计算与分析。理论计算表明:干涉谐振角θint-SPR与敏感膜厚度和折射率有着良好的线性关系,并与SPR谐振角θSPR的线性具有相同的量级,这说明可以通过测定干涉谐振角θint-SPR来检测金膜表面的生物分子相互作用,从而提出了一种确定SPR峰值移动的全新的方法。
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单位传感技术国家重点实验室; 中国科学院电子学研究所