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摘要
采用COMSOL Multiphysics有限元仿真软件，研究了在热老化过程中35 kV电缆中间接头缺陷的电场分布规律变化，针对电缆中间接头中易出现的预制件破损、主绝缘表面划痕、半导电层凸起、绝缘层杂质及水树枝等5种缺陷的电场分布进行研究。结果表明：在5种缺陷引发的场强畸变中，水树枝最为明显，为无缺陷时的5.4倍，主绝缘表面划痕最小，为无缺陷时的1.2倍。对XLPE和SIR两种材料进行加速热老化试验并将数据带入仿真模型得出：两种材料的介电常数和电导率劣化速率不同，电场畸变的规律也会随之发生变化，老化对半导电杂质缺陷电场畸变程度影响最大，老化384 h后该缺陷处电场强度是未老化的1.5倍。
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