电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼铁中钼铜硅

作者：陈磊

来源：特钢技术, 2019, 25(03): 51-37.

DOI：10.16683/J.CNKI.ISSN1674-0971.2019.3048

• ICP-AES
• 钼铁
• 钼
• 铜
• 硅

本文采用电感耦合等离子体原子发射光谱法对钼铁中钼、铜、硅的测定进行了研究,代替了普通化学分析方法,优选了试样溶解方式、最佳分析谱线及用BEC确定仪器工作参数,通过对准确度和精密度的检验,该方法快速、准确、可靠,结果令人满意,适合生产需要。