SoC芯片关键测试技术综述

作者：龙伊雯; 王小强; 罗军; 江凯; 孙宇

来源：电子产品可靠性与环境试验, 2020, 38(05): 11-15.

• 片上系统
• 系统级验证
• 高速信号测试
• 测试优化

逐渐增大的集成度使得SoC芯片测试面临诸多新挑战。首先,概述了SoC芯片关键测试技术的国内外研究现状;然后,从SoC芯片系统级验证、 SoC芯片高速信号测试和测试优化3个部分介绍了当前业界降低测试成本、提高芯片产品可靠性的关键技术手段;最后,展望了SoC芯片测试技术的发展方向。

• 单位
  工业和信息化部电子第五研究所