193 nm紫外激光对单晶硅的损伤特性研究

作者:王玺; 雷武虎; 张永宁; 王毕艺; 李乐
来源:航天电子对抗, 2023, 39(05): 44-64.
DOI:10.16328/j.htdz8511.2023.05.004

摘要

主要开展了193 nm紫外激光对单晶硅的损伤实验,观察分析了材料表面的损伤形貌,建立了193 nm紫外激光损伤单晶硅的理论模型,计算分析了材料的温度场及应力场分布,讨论了损伤形貌及损伤机理。研究结果表明:193 nm紫外激光对单晶硅的损伤机理主要为热力耦合效应,硅材料表面产生严重的熔融烧蚀和裂纹状的应力损伤,计算得到193 nm紫外激光对单晶硅的熔融损伤阈值为0.71 J/cm2、热应力损伤阈值为0.42 J/cm2。

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