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摘要
随着科技的发展,测控系统已经逐步转变为非接触测量模式,此次基于非接触测量模式设计了一套硬件成本低、功能性价比高的通用测控系统。此次设计选用了FPGA开发平台为系统控制核心,驱动接口部分设计并兼容了两款CDD模块,还添加了串行通讯及以太网通信功能接口,硬件部分使用ILX554模块实现对微弱光信号的探测,利用TDC1209模块实现扫描成像功能。本论文会对控制系统的硬件部分的选择与实现点做出合理的分析,最后实现对管径扫描成像质检和光谱分布测量。
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单位沈阳工学院
