摘要

基于所设计的新型法兰同轴测试装置(频率范围30 MHz~8 GHz),分析了开展电磁屏蔽薄膜屏蔽效能测量的不确定来源,重点讨论了测量重复性、测量仪器最大允许误差、测量仪器与测量夹具之间不匹配引起的失配误差影响因素,建立了屏蔽效能测量不确定度评定的数学模型。结果表明,电磁屏蔽薄膜屏蔽效能测量结果的扩展不确定度为1.2dB,满足标准对装置的要求。

  • 单位
    上海市计量测试技术研究院; 中国信息通信研究院