一种弹载信息处理器NAND Flash高可靠数据管理方法

作者：朱旭锋; 郭佳鑫; 胡晓晴; 梁建强; 张红

来源：航天控制, 2022, 40(01): 76-82.

DOI：10.16804/j.cnki.issn1006-3242.2022.01.002

• NAND Flash
• 坏块管理
• 错误检查和纠正
• 高可靠

为解决弹载信息处理器NAND Flash存取关键数据时，采用坏块管理和数据备份机制仍然无法避免的数据错误问题，提出一种NAND Flash全生命周期高可靠数据管理方法：以DSP软件进行坏块管理为基础，结合一种基于FPGA的改进BCH ECC校验算法，对弹载信息处理器NAND Flash全生命周期进行坏块检测评价，来提高数据管理的可靠性。提出的改进BCH ECC校验算法，采用PE单元复用方式实现读取NAND Flash数据时检9纠8实时检测。相比传统BCH ECC校验算法，该算法检测准确，占用FPGA逻辑资源少，检测速度快，非常适合高可靠性、强实时性弹载信息处理器应用场合。仿真效验结果表明，采用该方法可有效提高NAND Flash数据管理可靠性。

• 单位
  北京航天自动控制研究所