烧结钕铁硼中(Al+Cu)含量对晶界扩散的影响

作者:刘涛; 张昕; 李建; 陈杰; 程星华; 周磊; 喻晓军; 李波
来源:稀有金属材料与工程, 2021, 50(10): 3765-3770.

摘要

对(Al+Cu)质量分数分别为0.25%和0.5%的钕铁硼基体分别进行Dy晶界扩散,并分析了其矫顽力、Dy含量分布和微观结构。通过比较2种磁体的成分、性能发现,在Dy增加量基本相同的情况下,高(Al+Cu)磁体扩散后的矫顽力提高量相较于低(Al+Cu)磁体高37~44 kA/m。进一步进行成分和矫顽力的梯度分析发现,基体的(Al+Cu)含量变化并没有改变扩散后磁体内部Dy元素随扩散深度的浓度分布,但是矫顽力梯度分析结果显示,高(Al+Cu)样品的各片层矫顽力提升量均比低(Al+Cu)样品各片层高40~80 kA/m。后续的EPMA的Dy面分布图显示,高(Al+Cu)基体扩散后Dy在晶界处富集条纹更清晰、连续,而TEM的EDS分析结果也显示,高(Al+Cu)样品中晶界附近Dy含量更高。(Al+Cu)含量的提高,使得晶界相的流动性增强,Dy更加连续包裹主相晶粒,使得在整体Dy增加量相同的情况下进一步提升矫顽力。