高熔点焊球BGA返修工艺研究

作者:张艳鹏; 王威; 王玉龙; 孙海超
来源:电子工艺技术, 2020, 41(01): 40-42.
DOI:10.14176/j.issn.1001-3474.2020.01.011

摘要

BGA封装器件的陶瓷基体或3D-plus本体大都使用铅系高熔点焊球(Sn10Pb90)通过SBC工艺与印制板焊盘间实现连接。由于铅系高熔点焊球采用有铅焊接时不发生融化,其焊接和返修过程均区别于非SBC工艺BGA封装。针对铅系高熔点焊球BGA进行了返修对比试验,研究焊球成分和焊膏施加方式对SBC工艺BGA封装返修的影响,最终确立一套适用于铅系高熔点焊球BGA的高可靠性返修工艺。