摘要

通过传输矩阵法分析了材料介电常数的变化对于单缺陷结构的磁光多层膜隔离器性能的响,并提出了一种多缺陷结构的磁光多层膜结构.同单缺陷结构相比,多缺陷结构的旋转角的频谱响应带宽有很大增加,对于材料介电常数变化的宽容性得到了一个数量级的提高.同时这种多缺陷的结构对于膜层厚度的变化和入射角度也有很好的宽容性.