炭黑颗粒尺寸和形态特征的透射电子显微镜分析

作者：郑善亮; 郑丽娜; 吴爱芹; 刘爱芹

来源：橡胶科技, 2018, 16(05): 47-51.

• 透射电子显微镜
• 炭黑
• 聚结体
• 初级粒子
• 颗粒尺寸
• 形态特征

用透射电子显微镜(TEM)分析炭黑颗粒尺寸和形态特征。结果表明:采用本研究TEM炭黑形貌分析(软件分析)方法测试的炭黑初级粒子平均粒径与炭黑初级粒子粒径标称值相符,炭黑形态特征与实际相符,炭黑电镜比表面积变化趋势与统计吸附层厚度表面积相同。该方法数据准确、可靠,分析高效、便捷。