在物联网设备进行高、低温试验时，为了让设备内部温度达到稳定条件需要将设备在高、低温条件下保持数小时，但是在常用的标准中并未给出所需要保持的时间周期，这就造成了可能会造成设备试验不充分带来的风险。本文提出了一种设备内部温度测量方法，通过设备内部温度测量从而来确定在高低温下所需要的时间，并以一种设备为例给出了具体的测试步骤和方法。
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