超精加工表面形貌任意频率的提取及重构

作者:况良杰; 庞启龙*; 徐幼林
来源:工具技术, 2018, 52(10): 62-66.
DOI:10.16567/j.cnki.1000-7008.2018.10.024

摘要

采用功率谱密度(PSD)和连续小波方法(CWT)相结合的方法分析磷酸二氢钾(KDP)晶体超精加工表面形貌中的频率特征。采用PSD提取取样长度和周期范围内表面形貌上的所有频率特征,针对PSD得到的三个显著实际频率特征进行频率的提取,同时获得CWT的尺度因子a;用Mexican Hat小波函数实现连续小波变换还原实际频率形貌。结果表明:在采样域内,实际频率为0.0138μm-1的表面形貌与原始表面极为接近,是KDP晶体超精加工表面形貌及影响表面粗造度的主要频率特征。

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