摘要

搭建了基于266 nm波长深紫外光源的干涉光刻装置,使用平顶光整形器将高斯光整形成平顶光束,在硅基底上制备出面积为8.9 mm×25.4 mm、周期为407 nm的一维光栅结构图形和周期为860 nm的二维孔洞结构。使用扫描电子显微镜(SEM)测量了平顶光产生的一维干涉结构的线宽、周期等参数,并与高斯光产生的一维干涉结构参数进行对比。实验结果表明,加入了平顶光整形器的干涉光刻装置产生的周期性光栅结构图形均匀性提升了21.36%。