发育中神经元惊厥性损伤的相关基因表达

作者：曹海燕; 王静敏; 姜玉武; 潘虹; 薄涛; 吴希如

来源：实用儿科临床杂志, 2004, 19(09): 765-767.

DOI：10.3969/j.issn.1003-515X.2004.09.019

• 惊厥
• 发育
• 白细胞介素1受体
• 缝隙连接
• 基因

目的　研究惊厥发生后不同发育阶段神经元白细胞介素 1受体 (IL 1R)、Cx36基因表达。方法　无镁细胞外液短暂处理培养的发育中皮层神经元 ,用Real time定量RT PCR方法检测IL 1R、Cx36mRNA表达改变。结果　 1.体外培养 6、17d神经元无镁处理后IL 1R表达呈一过性降低 ,之后 6d神经元表达恢复正常 ,而17d神经元表达增加 ,于处理后 2 4h达高峰 (P <0 .0 5 )。 2 .体外 6d的神经元无镁处理后Cx36表达渐增高 ,于处理后 2 4h达高峰。体外 17d神经元处理后 6hCx36表达与对照组比较明显降低 (P <0 .0 5 ) ,2 4h降低达峰值。结论　无镁诱导惊厥后体外 6、17d神经元IL 1R、Cx36表达不同 ,可能与惊厥造成 6、17d的神经元损伤不同有关

• 单位
  北京大学第一医院