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摘要
针对阀基电子设备(VBE)系统光发射板频繁故障问题，通过破解光发射板的电路，分别对光耦输入电路、逻辑控制电路、发光二极管一级与二级驱动电路进行逐一分析及测试，定位出导致光发射板故障的易损元件；通过建立热流等效电路仿真模型研究环境温度对故障元件的影响，进而明确导致元件故障的原因。对VBE屏柜以及易损元件发光二极管和场效应管提出改进措施，以避免元件长期在高温环境下运行导致老化加速甚至故障。
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针对阀基电子设备(VBE)系统光发射板频繁故障问题，通过破解光发射板的电路，分别对光耦输入电路、逻辑控制电路、发光二极管一级与二级驱动电路进行逐一分析及测试，定位出导致光发射板故障的易损元件；通过建立热流等效电路仿真模型研究环境温度对故障元件的影响，进而明确导致元件故障的原因。对VBE屏柜以及易损元件发光二极管和场效应管提出改进措施，以避免元件长期在高温环境下运行导致老化加速甚至故障。
