低温二次焙烧对硅藻土孔径分布及组分的影响

作者：肖力光; 张艺超; 庞博; 赵壮

来源：硅酸盐通报, 2018, 37(10): 3201-3205.

DOI：10.16552/j.cnki.issn1001-1625.2018.10.031

• 低温二次焙烧
• 酸浸
• 比表面积
• 孔径

在对低品位硅藻土进行低温一次焙烧、酸浸提纯工艺的基础上,研究了低温二次焙烧对硅藻土孔径分布和组分的影响。通过扫描电镜(SEM)、X射线衍射(XRD)、比表面积及孔径分析等手段对硅藻土提纯前后进行表征。结果表明:依次经过一次焙烧、酸浸和二次焙烧处理后,硅藻土内Si O2含量明显增加,由原来的73. 67%增加到88.03%;比表面积显著增大,由原来的16. 4882 m2/g增加到32. 0527 m2/g;硅藻土中微孔和介孔数量显著增多,孔结构得到明显改善,硅藻土中自生矿物杂质得到有效去除,硅藻土的纯度得到显著提高。

• 单位
  吉林建筑大学