口腔显微镜对不同年资医生探查上颌磨牙近颊第二根管的影响研究

作者：高雅凡; 何琴; 黎景景; 杨卫东^*

来源：牙体牙髓牙周病学杂志, 2018, 28(09): 521-524.

DOI：10.15956/j.cnki.chin.j.conserv.dent.2018.09.005

• 口腔显微镜
• 上颌磨牙
• 近颊第二根管(MB2)
• 临床经验

目的:研究口腔显微镜的使用对不同临床经验的医生探查上颌磨牙近颊根第二根管(MB2)的发现率和准确性的影响。方法:收集离体上颌磨牙80个,随机分为A、B组(n=40),用CBCT检测MB2存在率无明显差异后,由高年资医生和低年资医生各1名分别使用口腔显微镜检测两组离体牙MB2,记录两名医生探查MB2的发现率和假阳性率。结果:低年资医生使用显微镜前后,MB2的发现率由20%提高到35%(P <0. 05);高年资医生使用显微镜前后,MB2的发现率由40%提高到47. 5%(P> 0. 05)。结论:口腔显微镜可提高低年资医生根管探查中MB2的发现率;不同年资医生在根管探查上的治疗策略不同,需采取临床经验与辅助手段相结合的方法。

• 单位
  南京大学; 南京市口腔医院