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摘要
利用扫描力显微术的压电响应模式 ,并基于逆压电效应原理 ,研究了梯度组成的PZT铁电薄膜纳米尺度铁电畴的场致位移特性 .获得了源于纳米尺度铁电畴的压电效应和电致伸缩效应贡献的场致位移回滞线 ,以及源于线性压电效应和电畴反转效应综合贡献的纳米尺度压电位移 场强蝶形曲线 ,证实了Caspari Merz理论在纳米尺度上的有效性 .发现了梯度铁电薄膜存在纳米尺度印刻现象 ,认为该现象的内因源于薄膜中的内偏场 .
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单位高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室; 广东工业大学; 中国科学院上海硅酸盐研究所
