提高热场扫描电镜能谱空间分辨率的方法研究

作者：黎爽^*; 邓平晔

来源：分析科学学报, 2018, 34(06): 824-828.

DOI：10.13526/j.issn.1006-6144.2018.06.022

• 能谱空间分辨率
• 热场发射扫描电镜
• 薄片法
• SDD硅漂移探测器

本文采用薄片法原理,设计出已获专利授权的新型扫描电镜载样装置,并将其安装在扫描电镜中,对分散为薄层的混合纳米材料进行元素分布测试。应用热场电镜能谱(SDD)系统具有的稳定可变束流、高计数率等优点,在相同的实验条件下与冷场扫描电镜能谱(Si(Li))系统进行对比。实验结果说明:较传统方法,采用新方法提升了电镜能谱的空间分辨率,而且热场优于冷场的水平,元素分布的识别效果得到显著提高,热场电镜能谱的分析领域得到完善。该方法也为应用热场电镜能谱对纳米材料进行成分分析提供了新的思路。

• 单位
  北京市科学技术研究院; 北京市理化分析测试中心