电化学界面是能源转换与存储、生物化学、传感器和腐蚀等领域的核心，研究电化学界面结构与性能的关系一直是电化学和化学测量学的热点与难点。本文重点介绍了基于高真空兼容微流控装置的原位液相飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)技术的原理、特性，及其在电化学固液界面实时、原位探测方面的研究进展。随着微流控装置的进一步创新以及ToF-SIMS仪器的不断发展，原位液相ToF-SIMS将为电催化、电池等领域的复杂电化学固液界面研究提供重要手段。
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